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  1. wafer probing 相關
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  1. 這兩個字應該是指同一件機器,都可以稱做晶圓測試機。 以一個圖面表示如下: 圖片參考:http://lt8ntw.bay.livefilestore.com/y1pIA27711_29SEzvyit6wP01lHDgPGMuKcX3AwtkXH2nNnf6Efq5c8BSl41bwwOtIfDwVcOEADTGc/img018.gif

    分類:科學 > 其他:科學 2008年09月11日

  2. ... Wafer Fabrication,簡稱 Wafer Fab)、晶圓測試( Wafer Probe ),及晶圓封裝(Packaging)。 晶圓測試是對晶片上的每個晶粒進行針測...

    分類:商業與財經 > 投資 2006年01月21日

  3. probe card主要是用來測 wafer 的 最主要客戶是IC設計公司&測試廠 前景: 不錯啊!只要有新的產品or產品的量大的話就有錢賺 而且pin越多越好,因為那是以pin腳來計價的,隨便做一塊 就要上萬,你覺得會沒錢景嗎?

    分類:硬體 > 其他:硬體 2007年04月23日

  4. ...用於高級耐火原料、冶金保護渣原料、機械刀具原料、特種磨料。 晶圓測試  Wafer probe 。晶圓探針。 在半導體製程上,主要可分成IC設計、晶圓製程( Wafer ...

    分類:科學 > 工程學 2005年05月15日

  5. ... Probe Card的應該是竹北廠 蠻多外勞工程師 外勞技術員 溝通都靠英文 PROBE CARD 是測試機台跟 wafer 接觸的介面 上面有很多微小的探針 千萬不要用手粗魯的去碰他 弄壞了...

    分類:科學 > 工程學 2011年03月31日

  6. ... Wafer Fabrication,簡稱 Wafer Fab)、晶圓測試( Wafer Probe ),及晶圓封裝(Packaging)。 晶圓測試是對晶片上的每個晶粒進行針測...

    分類:硬體 > 附加元件 2005年06月24日

  7. ... WAFER ,然後再拿到測試廠像力成,日月光,矽品,安可,京元電,超豐測試,俗稱晶圓探測( WAFER PROBING 或 WAFER SORT或 WAFER TEST)要依照看是什麼樣的...

    分類:硬體 > 附加元件 2006年01月07日

  8. ... is essential that ASECL pursue continual improvement in the wafer probe , package design, IC assembly, test, substrate manufacturing, and module development...

    分類:社會與文化 > 語言 2009年05月01日

  9. 是 Oxide 但它是自然形成的, 厚度應該沒有 2000A~5000A那麼厚

    分類:科學 > 工程學 2009年10月26日

  10. ...電性量測值的變異判斷某一道相關製程是否發生任何異常。此檢測不同於測試區( Wafer Probe )的檢測,前者是細部的電子特性測試與物理特性測試,後者所做的測試是針對...

    分類:科學 > 工程學 2006年01月19日

  1. wafer probing 相關
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