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  2. ...contact, Poly contact, Metal line,.....等等. 測試方法是, 用探針卡( Probe card)的針點在測試鍵的Metal Pad上, 探針卡接線的另一端接到...

  3. ...的內部電路.PAD的用途是:1.晶圓製造後的CP測試,就是用探針卡( probe card)點在這些PAD上,來作電性測試,以確定chip是好的.2.在封裝(assembly...